物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結構(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法，而且X射線衍射是人類用來研究物質微觀結構的一種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛，現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分析手段，具有無損試樣的優點。

　　X射線衍射儀的基本構造：X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構成很相似, X射線衍射儀主要部件包括4部分。

　　結構分析X射線管高穩定度X射線源提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。樣品及樣品位置取向的調整機構系統樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。衍射圖的處理分析系統現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計算機系統, 它們的特點是自動化和智能化。X射線管發生出來的不是純凈的單色光，包含多種波長的射線，主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽極，使陽極電子產生K 激發，擊走K 層電子后，L層或M 層電子填充K 層電子而產生的X 射線。